Scheer, Stefan <br/><br/>
Internationales Patent-, Muster- und Markenrecht :  Bd 1: PCT, Argentinien bis Italien ; Bd 2: Japan bis Weißrussland, Internationale Abkommen 

 - 68. Aufl. 
 - Getr. Zählung 
<br/><br/> 22.721/68, 23.192/68 
<br/><br/><label>ISSN: </label>0179-8901 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Gewerblicher Rechtsschutz<br/>Internationales Patentrecht<br/>Internationales Musterrecht<br/>Internationales Markenrecht