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Logik im Patentrecht : objektive Fundamente der Urteilsbildung ; von Kurt Stamm

Von: Sprache: Deutsch Verlag: Köln [u.a.]: Heymann, 2002Beschreibung: XVIII, 403 Seiten + IllInhaltstyp:
  • Text
Medientyp:
  • ohne Hilfsmittel zu benutzen
Datenträgertyp:
  • Band
ISBN:
  • 3-452-25276-0
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