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Internationales Patent-, Muster- und Marken-Recht : Bd. 2. Japan bis Weißrussland, Intern. Abkommen / Stefan Scheer.

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Sprache: Deutsch Gesamtaufnahme: Internationales Patent-, Muster- und Marken-Recht :Verlag: Hürth : Köln : Scheer, 2002Auflage: 61. AuflBeschreibung: XXXIX, 751 SeitenInhaltstyp:

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Medientyp	Aktuelle Bibliothek	Sammlung	Standort	Signatur	Status	Fälligkeitsdatum	Barcode	Vormerkungen
Monographie	Das Österreichische Patentamt	Patent	Lesesaal	20923 61 (Regal durchstöbern(Öffnet sich unterhalb))	Verfügbar		A000001658

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