Normale Ansicht MARC ISBD

Internationales Patent-, Muster- und Warenzeichen-Recht :

Scheer, Hans

Internationales Patent-, Muster- und Warenzeichen-Recht : Deutschland und das Ausland - 42. Aufl. - 728 S.

Subjects--Topical Terms:
Internationales Patentrecht
Internationales Musterrecht
Internationales Markenrecht
Gewerblicher Rechtsschutz

Vormerken
Druck
Meinem Korb hinzufügen (Entfernen)
Datensatz speichern
BIBTEX Dublin Core MARCXML MARC (Nicht-Unicode/MARC-8) MARC (Unicode/UTF-8) MARC (Unicode/UTF-8, Standard) MODS (XML) RIS ISBD
Weitere Suchen

Suche nach diesem Titel in:
Andere Bibliotheken (WorldCat) Google Scholar Online-Buchhandel (Bookfinder.com)