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Internationales Patent-, Muster- und Warenzeichenrecht :

Scheer, Hans

Internationales Patent-, Muster- und Warenzeichenrecht : Deutschland und das Ausland - 19. Aufl. - 516 S.

Subjects--Topical Terms:
Internationales Patentrecht
Internationales Musterrecht
Internationales Markenrecht
Gewerblicher Rechtsschutz

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